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成像色度计与红外测试相机

Instrument Systems的成像测量系统用于亮度、色度及辐射特性的二维光学测量,支持从研发验证到量产测试的多种应用需求。系统可在单次采集中获取空间分布数据,有助于提升测试效率并简化流程。所有测量结果均可溯源至国际标准(NIST / PTB),为数据的一致性与可比性提供可靠基础。


     

我们可根据不同应用需求提供合适的测量方案与技术支持,包括系统选型、测量配置及应用建议。相关解决方案广泛应用于 AR/VR 近眼显示测试、显示面板与模组检测、MicroLED 等新型显示技术评估,以及 VCSEL 与红外光源的近场与远场分析和汽车显示与照明应用。

产品系列

光谱增强型 LumiTop 成像测量系统
结合成像亮度计与光谱测量,实现绝对亮度与色度分析,适用于显示器生产与质量控制。

• 单次采集获取亮度与色度二维分布
• 光谱校准确保测量结果准确可靠
• 适用于 AR/VR 与显示器产线测试



高分辨率 LumiTop X 一体化系统
集成高分辨率成像与光谱测量能力,支持最高1.51亿像素分辨率,适用于显示检测与分析。

• 高分辨率成像,实现像素级亮度与色度分析
• 支持低亮度及高动态范围测量
• 支持缺陷检测(如 Mura)与均匀性评估
• 适用于研发、质量控制及自动化检测



LumiCam成像亮度计与色度计
灵活配置的成像测量系统,用于亮度与色度的二维分布分析,适用于显示与汽车内饰光学测试。

• 快速获取亮度与色度空间分布,支持均匀性与缺陷分析(如 Black Mura)
• 支持最高 1200 万像素成像,满足多种显示检测需求
• 适用于仪表盘、指示显示及 HUD 等汽车显示应用



VTC 2400|VCSEL/红外光源远场高精度测量
用于分析VCSEL阵列及红外光源的远场辐射分布与空间特性,适用于光学性能评估与安全测试。

• 单次采集获取阵列中每个发射单元信息
• 支持功率、位置及偏振特性分析
• 适用于阵列均匀性评估与质量控制

VTC 4000|VCSEL阵列近场高精度测量
专为 VCSEL 阵列设计,用于分析单个发射单元的近场特性与空间分布。

• 单次测量获取完整远场辐射分布
• 支持 NA、发散角及空间分布分析
• 适用于激光性能与安全评估

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