成像色度计与红外测试相机
Instrument Systems的成像测量系统用于亮度、色度及辐射特性的二维光学测量,支持从研发验证到量产测试的多种应用需求。系统可在单次采集中获取空间分布数据,有助于提升测试效率并简化流程。所有测量结果均可溯源至国际标准(NIST / PTB),为数据的一致性与可比性提供可靠基础。
我们可根据不同应用需求提供合适的测量方案与技术支持,包括系统选型、测量配置及应用建议。相关解决方案广泛应用于 AR/VR 近眼显示测试、显示面板与模组检测、MicroLED 等新型显示技术评估,以及 VCSEL 与红外光源的近场与远场分析和汽车显示与照明应用。
产品系列
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光谱增强型 LumiTop
成像测量系统
• 单次采集获取亮度与色度二维分布 |
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高分辨率 LumiTop X 一体化系统
• 高分辨率成像,实现像素级亮度与色度分析 |
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LumiCam成像亮度计与色度计
• 快速获取亮度与色度空间分布,支持均匀性与缺陷分析(如 Black Mura) |
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VTC
2400|VCSEL/红外光源远场高精度测量
• 单次采集获取阵列中每个发射单元信息 |
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VTC 4000|VCSEL阵列近场高精度测量
• 单次测量获取完整远场辐射分布 |
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